安徽馬鞍山振蕩波局放耐壓試驗(yàn)系統(tǒng)在交流電壓作用下，電介質(zhì)要消耗部分電能，這部分電能將轉(zhuǎn)變?yōu)闊崮墚a(chǎn)生損耗。這種能量損耗叫做電介質(zhì)的損耗。當(dāng)電介質(zhì)上施加交流電壓時(shí)，電介質(zhì)中的電壓和電流間成在相角差ψ，ψ的余角δ稱為介質(zhì)損耗角，δ的正切tgδ稱為介質(zhì)損耗角正切。tgδ值是用來(lái)衡量電介質(zhì)損耗的參數(shù)。儀器測(cè)量線路包括一標(biāo)準(zhǔn)回路（Cn）和一被試回路(Cx)，如圖2—1所示。標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與測(cè)量線路組成，被試回路由被試品和測(cè)量線路組成。測(cè)量線路由取樣電阻與前置放大器和A/D轉(zhuǎn)換器組成。通過(guò)測(cè)量電路分別測(cè)得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位差，再由數(shù)字信號(hào)處理器運(yùn)用數(shù)字化實(shí)時(shí)采集方法，通過(guò)矢量運(yùn)算得出試品的電容值和介質(zhì)損耗正切值。主菜單打開(kāi)電源開(kāi)關(guān)，進(jìn)入主菜單（如圖5—1）。界面上方為狀態(tài)提示欄。從左往右分別為：①測(cè)試主機(jī)與手持終端之間的2.4G無(wú)線信號(hào)，10表示信號(hào)強(qiáng)；②測(cè)試主機(jī)高壓?jiǎn)卧姵仉娏浚虎蹨y(cè)試主機(jī)低壓?jiǎn)卧姵仉娏浚虎苁殖纸K端電池電量。第二欄右側(cè)為日期時(shí)間顯示。中間區(qū)域?yàn)楣δ馨存I區(qū)，可自行選擇需要的功能點(diǎn)擊進(jìn)入。

安徽馬鞍山振蕩波局放耐壓試驗(yàn)系統(tǒng)高壓源控制 測(cè)試系統(tǒng) 由兩部分構(gòu)成： 高壓?jiǎn)卧? 筆記本電腦 測(cè)試過(guò)程中，內(nèi)部的高壓直流源由 系統(tǒng)控制。出于考慮（如圖2.1 所示）， 系統(tǒng)外部控制開(kāi)關(guān)始終與系統(tǒng)連接，并用于切斷高壓。 系統(tǒng)外部控制開(kāi)關(guān)功能介紹示意圖請(qǐng)時(shí)刻謹(jǐn)記章節(jié)2 中的四項(xiàng)規(guī)則。 技術(shù)總覽 系統(tǒng)構(gòu)成 該測(cè)試系統(tǒng)包括高壓?jiǎn)卧⑼獠靠刂崎_(kāi)關(guān)、筆記本單元以及配套的連接電纜 M 系列單元構(gòu)成如下控制單元 高壓線圈； - 高壓分壓器； - 高壓開(kāi)關(guān)； - 局放耦合電容；局放耦合器； - 局放校準(zhǔn)儀； - 連接面板。 系統(tǒng)由筆記本電腦遠(yuǎn)程控制，首先應(yīng)該： - 通過(guò)直連網(wǎng)線將高壓?jiǎn)卧凸P記本電腦連接 3.1.2振蕩波工作原理：?基于OWTS技術(shù)的測(cè)試電壓產(chǎn)生原理如圖1所示。直流高壓電源首先通過(guò)線性連續(xù)升壓方式對(duì)被測(cè)電纜進(jìn)行逐步充電（充電電流恒定）、加壓至預(yù)設(shè)值。加壓完成后，固態(tài)高壓開(kāi)關(guān)S（激光觸發(fā)場(chǎng)效應(yīng)管LTT）在小于1μS的時(shí)間內(nèi)閉合，使被測(cè)電纜電容與OWTS系統(tǒng)中高壓電感L產(chǎn)生諧振，從而在被測(cè)電纜上產(chǎn)生阻尼振蕩交變電壓（DAC），其波形及頻率接近工頻電壓，且持續(xù)時(shí)間為mS級(jí)，對(duì)電纜絕緣無(wú)損傷。?電纜振蕩波局部放電檢測(cè)基本原理如圖1所示：圖1 電纜振蕩波局放測(cè)試原理?用直流電源將被測(cè)試電纜在幾秒中內(nèi)充電至工作電壓(額定電壓)。實(shí)時(shí)快速狀態(tài)開(kāi)關(guān)S閉合，將被測(cè)電纜和空心電感構(gòu)成串聯(lián)諧振回路，回路開(kāi)始以的頻率進(jìn)行振蕩。空心電感值根據(jù)諧振頻率的要求進(jìn)行選擇，頻率范圍5O～1000Hz，相近于工頻頻率。圖1中的中壓電路一般具有相對(duì)低的介質(zhì)損耗角的特點(diǎn)，與具有低損耗的空心電感相配，可得到具有高品質(zhì)因數(shù)的諧振回路。回路品質(zhì)Q一般為60～100，振蕩波以諧振頻率在0.3～1s內(nèi)衰減完畢，這一過(guò)程只有幾十分之一周波，并對(duì)被測(cè)試電纜充電，與50Hz(60Hz)時(shí)局部放電非常相似。