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精密直流低電阻測(cè)試儀西雙版納廠家價(jià)格優(yōu)惠

精密直流低電阻測(cè)試儀西雙版納廠家價(jià)格優(yōu)惠
西雙版納變壓器有載開(kāi)關(guān)測(cè)試儀 交直流法檢測(cè)變壓器有載開(kāi)關(guān)技術(shù)已成熟本產(chǎn)品主要用于開(kāi)關(guān)帶繞組狀態(tài)下，在變電站現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)變壓器有載分接開(kāi)關(guān)的過(guò)度波形，開(kāi)關(guān)的電壓等級(jí)范圍是10kV～500kV，測(cè)試接線不受變壓器繞組結(jié)線方式的限制，適應(yīng)于各種結(jié)線組別的三相、單相變壓器、電抗器等有載分接開(kāi)關(guān)動(dòng)作過(guò)度波形的測(cè)試。本產(chǎn)品使用單相220V電源作為工作電源，將單相電源變換為三相可調(diào)試驗(yàn)用電源，將試驗(yàn)電源加到變壓器高壓側(cè)套管上，啟動(dòng)有載開(kāi)關(guān)切換，本產(chǎn)品能將變壓器有載開(kāi)關(guān)帶繞組狀態(tài)下動(dòng)作過(guò)程交流波形錄制保存下來(lái)，通過(guò)觀察分析開(kāi)關(guān)切換過(guò)程中開(kāi)關(guān)各觸點(diǎn)的交流波形，能準(zhǔn)確判斷出變壓器有載開(kāi)關(guān)是否存在過(guò)渡電阻斷線、觸頭接觸不良、過(guò)渡電阻橋接時(shí)間超規(guī)程要求等設(shè)備的隱性缺陷。本產(chǎn)品設(shè)計(jì)采用成熟的現(xiàn)代計(jì)算機(jī)技術(shù)、高速采集數(shù)據(jù)信息處理技術(shù)將交流測(cè)試技術(shù)應(yīng)用于分接開(kāi)關(guān)現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)中，采用高速采集數(shù)據(jù)技術(shù)（采集速度達(dá)200 k/s/通道以上）對(duì)開(kāi)關(guān)過(guò)度波形連續(xù)采集存儲(chǔ)，在開(kāi)關(guān)帶繞組狀態(tài)下能準(zhǔn)確捕捉到開(kāi)關(guān)動(dòng)作過(guò)程中所產(chǎn)生的瞬變點(diǎn)（不做濾波處理），測(cè)試出的開(kāi)關(guān)過(guò)度波形是真實(shí)的，通過(guò)分析真實(shí)的開(kāi)關(guān)過(guò)度波形，對(duì)波形的解析結(jié)果是 性的，不存在無(wú)法判讀等技術(shù)爭(zhēng)議問(wèn)題。交流法測(cè)試接線不受變壓器繞組結(jié)線方式的限制，解決了長(zhǎng)期以來(lái)在現(xiàn)場(chǎng)采用直流方法試驗(yàn)存在的問(wèn)題。使用《交直流參數(shù)變壓器有載開(kāi)關(guān)現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)裝置》在現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試已積累了豐富的經(jīng)驗(yàn)，并已獲取了多臺(tái)開(kāi)關(guān)實(shí)測(cè)事例。《交直流參數(shù)變壓器有載開(kāi)關(guān)現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)裝置》將成為現(xiàn)場(chǎng)常規(guī)測(cè)試設(shè)備，已得到推廣應(yīng)用。

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西雙版納變壓器有載開(kāi)關(guān)測(cè)試儀 數(shù)據(jù)管理界面6.7波形查看界面“數(shù)據(jù)管理”界面下按下確認(rèn)鍵可進(jìn)入“波形查看”界面，“波形查看”界面可以查看測(cè)量和分析波形。“波形查看”界面與“波形分析”界面操作相同。6.8系統(tǒng)設(shè)置開(kāi)機(jī)界面進(jìn)入系統(tǒng)設(shè)置轉(zhuǎn)入系統(tǒng)設(shè)置界面（如圖11）。當(dāng)前選項(xiàng)為“時(shí)間設(shè)置”按鈕，按“↑、↓、←、→”鍵可以改變當(dāng)前選項(xiàng)。按下確認(rèn)鍵選中當(dāng)前選項(xiàng)。按“取消”轉(zhuǎn)回到開(kāi)機(jī)界面。圖11 系統(tǒng)設(shè)置界面6.8.1 時(shí)間設(shè)置系統(tǒng)設(shè)置界面下選中時(shí)間設(shè)置可轉(zhuǎn)入時(shí)間設(shè)置界面（如圖12）。修改方法同參數(shù)設(shè)置里的觸發(fā)電平。確認(rèn)保存修改以后的值，返回放棄修改直接返回。6.8.2 儀器校準(zhǔn)“儀器校準(zhǔn)”為出廠前儀器校正所用，設(shè)有密碼，用戶請(qǐng)勿使用。6.8.3 刪除記錄選中 “刪除記錄”選項(xiàng)可刪除當(dāng)前所有歷史記錄。6.8.4 其他設(shè)置儀器所需的其他是設(shè)置。

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西雙版納變壓器有載開(kāi)關(guān)測(cè)試儀在此測(cè)量界面按“打印”鍵可打印數(shù)據(jù)；按“存儲(chǔ)”鍵存儲(chǔ)數(shù)據(jù)（可選存儲(chǔ)介質(zhì)：本機(jī)、優(yōu)盤）；按“確認(rèn)”鍵鎖屏，按“取消”鍵重新測(cè)量，按“返回”鍵返回上一界面。②接線方法 短接變壓器對(duì)側(cè)接線端子a-b-c，三相實(shí)驗(yàn)電源（一般為380V）的A、B、C相分別接儀器的“入IA”、“入IB”、“入IC”。黃色測(cè)試鉗一端接變壓器A相接線柱，另一端接儀器的“出IA”和“出Ua”；綠色測(cè)試鉗一端接變壓器B相接線柱，另一端接儀器的“出IB“和“出Ub”；紅色測(cè)試鉗一端接變壓器C相接線柱，另一端接儀器的“出IC”和“出Uc”；如果變壓器本側(cè)有中性點(diǎn)，其中性點(diǎn)應(yīng)該與面板上“Uo”接線柱相接，沒(méi)有中性點(diǎn)的可以不接。如圖七所示：圖七2）分相YN型測(cè)試①分相YN型測(cè)試是指變壓器高壓側(cè)為YN型連接的變壓器，其特點(diǎn)為可以使用單相法直接測(cè)出某一相的阻抗參數(shù)。在短路阻抗測(cè)量界面下選擇“2、分相YN型測(cè)試”，按“確認(rèn)”鍵進(jìn)入短路阻抗參數(shù)設(shè)置界面，同圖五。輸入好參數(shù)后，按確認(rèn)鍵進(jìn)入測(cè)試界面，如圖八。圖八在此界面下，按“確認(rèn)”鍵記錄當(dāng)前所測(cè)繞組的參數(shù)，然后按“選擇”鍵更改加壓繞組，三相記錄完成后，按“←”或 “→”鍵”進(jìn)行三相折算，顯示如圖九所示界面。此時(shí)按“返回”鍵可返回短路阻抗主菜單

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西雙版納變壓器有載開(kāi)關(guān)測(cè)試儀開(kāi)機(jī)界面接好線路，打開(kāi)電源進(jìn)入開(kāi)機(jī)界面（如圖4）按“↑、↓、←、→” 鍵改變選中項(xiàng)，按“確認(rèn)”鍵進(jìn)入選中項(xiàng)，進(jìn)入“參數(shù)設(shè)置”界面可以進(jìn)行參數(shù)的設(shè)置和修改，進(jìn)入“數(shù)據(jù)測(cè)試”可以進(jìn)行過(guò)渡電阻和過(guò)渡時(shí)間的測(cè)試；進(jìn)入“歷史數(shù)據(jù)”可以查看儀器存儲(chǔ)的歷史數(shù)據(jù)；進(jìn)入“系統(tǒng)設(shè)置”可以進(jìn)行時(shí)間設(shè)置，儀器校準(zhǔn)和刪除記錄等。“儀器校準(zhǔn)”為出廠前儀器校正所用，設(shè)有密碼，用戶請(qǐng)勿使用。圖4 開(kāi)機(jī)界面6.3參數(shù)設(shè)置界面開(kāi)機(jī)界面進(jìn)入“參數(shù)設(shè)置”轉(zhuǎn)入測(cè)量參數(shù)設(shè)置界面， 如圖5所示。當(dāng)前選項(xiàng)為“測(cè)量電流”按鈕，按“↑、↓、←、→”鍵可以改變當(dāng)前選項(xiàng)。按下確認(rèn)鍵選中當(dāng)前選項(xiàng)，按“↑、↓、←、→”鍵可以改變當(dāng)前選項(xiàng)值，參數(shù)修改完畢后再次按下確認(rèn)鍵即可退出“參數(shù)修改模式”，此時(shí)按“↑、↓、←、→”鍵 就又變回切換當(dāng)前選項(xiàng)。按“取消”轉(zhuǎn)回到開(kāi)機(jī)界面。參數(shù)說(shuō)明如下：?測(cè)量電流：測(cè)試過(guò)程中儀器輸出的恒定電流。?測(cè)量方式：有繞組，即有載分接開(kāi)關(guān)連接在變壓器繞組上；無(wú)繞組，則表示單獨(dú)的有載分接開(kāi)關(guān)。?測(cè)量方向：繞組當(dāng)前調(diào)壓方向，為1時(shí)表示正向調(diào)壓，為0時(shí)表示反向調(diào)壓。?分接位置：變壓器當(dāng)前分接頭位置共1~9個(gè)分接位置。?觸發(fā)電平：測(cè)量過(guò)程中檢測(cè)到超過(guò)此值的電壓跳變時(shí)認(rèn)為分接開(kāi)關(guān)已經(jīng)動(dòng)作。即儀器的“靈敏度”，設(shè)置太高會(huì)造成無(wú)法觸發(fā)，設(shè)置太低容易造成誤觸發(fā)。?試品序號(hào)：用戶自行定義的分接開(kāi)關(guān)的編號(hào)。圖5 參數(shù)設(shè)置界面6.4數(shù)據(jù)測(cè)試界面開(kāi)機(jī)界面按下“數(shù)據(jù)測(cè)試|”轉(zhuǎn)到圖6所示數(shù)據(jù)測(cè)試界面。當(dāng)前選項(xiàng)為“測(cè)試”按鈕，按“↑、↓、←、→”鍵可以改變當(dāng)前選項(xiàng)。按下確認(rèn)鍵選中當(dāng)前選項(xiàng)。選中“測(cè)試”按鈕后，界面左半部分顯示的是實(shí)時(shí)測(cè)得的儀器接線柱A0、B0、C0之間的電阻（開(kāi)路狀態(tài)下1A為大概24Ω，0.5A為大概48Ω）。測(cè)量時(shí)應(yīng)待到此值穩(wěn)定以后（即繞組充電已飽和 該靜態(tài)電阻值很重要，一定要等其穩(wěn)定，容量越大的變壓器穩(wěn)定的時(shí)間越長(zhǎng)， 大概幾十秒，到幾分鐘。）再按下“動(dòng)作開(kāi)關(guān)”按鈕，同時(shí)開(kāi)始捕捉開(kāi)關(guān)的動(dòng)作，此時(shí)可以動(dòng)作被測(cè)分接開(kāi)關(guān)。測(cè)試儀捕捉到開(kāi)關(guān)動(dòng)作波形后會(huì)在界面右半部分顯示動(dòng)作波形。觸發(fā)完成后按下“波形分析”按鈕可進(jìn)入波形分析界面。

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西雙版納變壓器有載開(kāi)關(guān)測(cè)試儀波形分析1.從圖13可以看出，橋接前時(shí)間過(guò)長(zhǎng)，已達(dá)50ms（是正常時(shí)間的三倍），并且不止是一相，而是三相差不多。這是典型的快速機(jī)構(gòu)儲(chǔ)能彈簧老化，速度變慢。2．從圖14中可以看到A相從單到雙（3-4）和雙到單（4-3）有對(duì)稱的過(guò)零段，是在單數(shù)側(cè)，且過(guò)渡電阻值從儀器上觀察遠(yuǎn)大于50Ω（超過(guò)50Ω可以看成開(kāi)路）。這是典型的過(guò)渡電阻缺陷。吊檢后發(fā)現(xiàn)單數(shù)側(cè)過(guò)渡電阻已斷裂。3．圖15中這個(gè)波形是由于開(kāi)始測(cè)試時(shí)，靈敏度選的比較高，又是由3-2方向（電感量增加）容易引起震蕩。適當(dāng)降低靈敏度由1-n方向測(cè)試結(jié)果正常。4． 從圖16中看出，A相波形較亂，打出的過(guò)渡電阻值僅0.3-0.5Ω，而且從1-7均如此。 吊檢發(fā)現(xiàn)A相切換開(kāi)關(guān)引出線軟連接有斷股，造成A相過(guò)渡電阻被短接（未接死）。現(xiàn)場(chǎng)處理后，波形正常。八、常見(jiàn)故障1．CPU板故障可能出現(xiàn)的波形（見(jiàn)圖17）。處理辦法：更換CPU板圖 17 2．儀器供電電壓過(guò)低可能出現(xiàn)的波形（見(jiàn)圖18）3．儀器自激振蕩可能出現(xiàn)的波形（見(jiàn)圖19）圖19處理辦法：試品充分放電后，由1-n方向測(cè)試，非測(cè)試?yán)@組良好的短路接地；必要時(shí)調(diào)整儀器的靈敏度即觸發(fā)電平。

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