大理石檢驗(yàn)平臺-花崗石打孔平臺的主要作用是為打孔操作提供一個(gè)平穩(wěn)、同城的基準(zhǔn)面。它的表面經(jīng)過精密加工，具有極高的平面度和光潔度，可以有效地保證打孔的精度和質(zhì)量。同時(shí)，花崗石材料的高硬度和耐磨性使得平臺具有較長的使用壽命，可以承受頻繁的使用和磨損。 光學(xué)與電子行業(yè)應(yīng)用：在光學(xué)和電子行業(yè)中，由于其出色的平整度和硬度，大理石檢驗(yàn)平臺常被用作鏡片、同城半導(dǎo)體晶圓等精密元件的研磨、同城拋光、同城檢測等工作臺面，提供一個(gè)無振動(dòng)、同城無磁性的理想工作環(huán)境。 大理石T型槽平臺是由優(yōu)質(zhì)天然大理石經(jīng)過數(shù)億年的老化過程后制成的。它主要使用福建的材料，并通過機(jī)械加工和人工研磨進(jìn)行加工。這種平臺具有多種優(yōu)點(diǎn)，如精度高、同城壽命長、同城耐酸堿、同城不易變形、同城耐磨性、同城強(qiáng)度、同城高硬度和穩(wěn)定性好等。

大理石檢驗(yàn)平臺的精度誤差因等級和尺寸而異。以下是不同等級和尺寸的大理石檢驗(yàn)平臺的精度誤差范圍： 0級精度：在250×250mm的平面內(nèi)，平面度誤差在3.5μm以內(nèi)。在1000×1000mm的平面內(nèi)，整體平面度誤差為7微米。在300×300mm的平面內(nèi)，平面度誤差在6μm以內(nèi)。 1級精度：在250×250mm的平面內(nèi)，平面度誤差在7μm以內(nèi)。在1000×1000mm的平面內(nèi)，整體平面度誤差為14微米。在1000×2000mm的平面內(nèi)，整體平面度誤差為19微米。 2級精度：在250×250mm的平面內(nèi)，平面度誤差在15微米以內(nèi)。 3級精度：在250×250mm的平面內(nèi)，平面度誤差在30μm以內(nèi)。在1000×1000mm的平面內(nèi)，整體平面度誤差為56微米。