絕緣子鹽密度測試儀注意事項測試時將儀器放置于水平面上避免測試過程中被測溶液灑出。測試完成后即時將被測溶液排出。避免跌落，請勿倒置。、軟件使用說明5.1軟件安裝數(shù)據(jù)管理軟件安裝包在配套U盤中（雙擊安裝包進(jìn)行安裝（彈出提示選擇默認(rèn)即可）。安裝完成之后電腦桌面會生成標(biāo)，表面安裝成功。數(shù)據(jù)導(dǎo)入雙擊打開分析軟件，插入存有檢測數(shù)據(jù)的U盤，在應(yīng)用界面點(diǎn)擊“數(shù)據(jù)”菜單選擇“文件夾導(dǎo)入”文件夾導(dǎo)入，在彈出的對話框單擊“選擇選擇存放數(shù)據(jù)的文件夾然后點(diǎn)擊“確定”即可完成數(shù)據(jù)的導(dǎo)入。圖5.3選擇文件導(dǎo)入模式與上述操作過程相似，區(qū)別在于選擇導(dǎo)入文件時必須選擇文本文件。數(shù)據(jù)查看在左側(cè)列表里點(diǎn)擊年份、月份或具體某天，右側(cè)數(shù)據(jù)顯示框即對應(yīng)展示所點(diǎn)擊年份、月份或具體某天的所有數(shù)據(jù)。若要查找某條紀(jì)錄可在搜索框內(nèi)輸入該條紀(jì)錄信息，即可進(jìn)行模糊匹配。5.4數(shù)據(jù)編輯當(dāng)需要對數(shù)據(jù)進(jìn)行編輯時，點(diǎn)擊數(shù)據(jù)條目后“編輯”按鈕在彈出的對話框中進(jìn)行編輯數(shù)據(jù)導(dǎo)出本軟件可將所選數(shù)據(jù)導(dǎo)出為Excel表格，導(dǎo)出數(shù)據(jù)為當(dāng)前界面所顯示數(shù)據(jù)

絕緣子鹽密度測試儀　相關(guān)術(shù)語：1、參照盤形懸式絕緣子 reference cap and pin insulatorXP-70、XP-160、LXP-70和LXP-160普通盤形懸式絕緣子（根據(jù)GB/T 7253），通常7~9片組成一串用來測量現(xiàn)場污穢度。2、爬電距離 creepage distance在兩個導(dǎo)電部分之間，沿絕緣體表面的短距離。注：水泥或其他非絕緣膠合材料表面不認(rèn)為是爬電距離的構(gòu)成部分。如果絕緣子的絕緣件的某些部分覆蓋有高電阻層，則該部分應(yīng)認(rèn)為是有效絕緣表面并且沿其上面的距離應(yīng)包括在爬電距離內(nèi)。3、統(tǒng)一爬電比距 unified specific creepage distance（USCD）絕緣子的爬電距離與其兩端承擔(dān)的運(yùn)行電壓（對于交流系統(tǒng)，為相電壓）之比，mm/kV。4、附鹽密度 salt deposit density（SDD）人工涂覆于給定絕緣子表面（不包括金屬部件和裝配材料）上氯化鈉總量除以表面積，mg/cm2。等值附鹽密度 絕緣子單位絕緣表面上的等值附鹽量，mg/cm2。6、不溶物密度（簡稱灰密） ）絕緣子單位絕緣表面上清洗的非可溶殘留物總量除以表面積，mg/cm2。7、現(xiàn)場等值鹽度根據(jù)GB/T 4585進(jìn)行鹽霧試驗時的鹽度。用該鹽度試驗，在相同絕緣子和相同電壓下，產(chǎn)生的泄露電流峰值與現(xiàn)場自然污穢條件下的泄露電流基本相同。8、現(xiàn)場污穢度 s）在適當(dāng)?shù)臅r間段內(nèi)測量到的污穢嚴(yán)重程度ESDD/NSDD或SES的值。9、現(xiàn)場污穢度等級 s將污穢嚴(yán)重程度從非常輕到非常嚴(yán)重按SPS的分級。10、帶電系數(shù)K1 同形式絕緣子帶電所測ESDD/NSDD（SES）值與非帶電所測值之比，K1一般為 主測量界面圖2.2開機(jī)，即為測量頁面，測量工作均在此頁面進(jìn)行，相關(guān)按鈕介紹見下表：按鈕名稱功能“參數(shù)切換至“參數(shù)設(shè)置界面記錄切換至“記錄查看界面”“校準(zhǔn)”校準(zhǔn)鹽密、灰密基準(zhǔn)值“攪拌”將溶液污穢物拌勻并測量灰密值“打印打印本次測量結(jié)果“保存”保存測試結(jié)果到內(nèi)存中